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國標(biāo)設(shè)備

電壓擊穿測試儀耐電弧試驗儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計）電弱點試驗儀 50點耐壓測試儀

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HCDH-200、300耐漏電起痕試驗儀測試儀器

更新時間：2023-08-03

型號：HCDH-200、300

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耐漏電起痕試驗儀測試儀器：耐漏電起痕試驗儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗項目。
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耐漏電起痕HCDH-200測試儀器

更新時間：2023-08-03

型號：

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耐漏電起痕HCDH-200測試儀器：耐漏電起痕試驗儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗項目。
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工程塑料、耐漏電起痕HCDH-200測試儀器

更新時間：2023-08-03

型號：

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工程塑料、耐漏電起痕HCDH-200測試儀器：耐漏電起痕試驗儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬試驗項目。
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電弱點測試儀華測實驗儀器有限公司HCRD

更新時間：2024-12-16

型號：

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電弱點測試儀華測實驗儀器有限公司HCRD-20kv：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進行電弱點的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動控制，遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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電弱點測試儀器HCRD-300

更新時間：2024-12-16

型號：

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復(fù)現(xiàn)性好、電弱點測試儀器HCRD-300：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進行電弱點的測試，測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動控制，遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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Huace-300表面體積電阻率測試儀北京華測*

更新時間：2024-06-05

型號：Huace-300

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表面體積電阻率測試儀北京華測*Huace-300 ： Huace-300型表面、體積電阻率測定儀符合并優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》和美準(zhǔn)ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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絕緣材料體積電阻率測試儀Huace-300

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硫化橡膠絕緣材料體積電阻率測試儀Huace-300： Huace-300型表面、體積電阻率測定儀符合并優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》和ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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表面體積電阻率測試儀Huace-300

更新時間：2024-06-05

型號：

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固體絕緣材料表面體積電阻率測試儀Huace-300： Huace-300型表面、體積電阻率測定儀符合并優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》和美準(zhǔn)ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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